Rasterelektronenmikroskop Starke
Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) mit Raster-Kraft-/Magnet-Kraft-Mikroskopie-Modul (AFM/MFM) für wissenschaftliche Anwendungen: Das vollständige Messsystem umfasst erforderliche Komponenten, Software, Zubehör, Lieferung, Installation, Inbetriebnahme und Einweisung der Anwender. Es ermöglicht die Untersuchung und Charakterisierung unterschiedlicher Proben mittels REM sowie AFM/MFM.
Keine Ausschreibungen mehr verpassen
Wir schicken Ihnen 3 aktuelle Treffer, die zu Ihrem Unternehmen passen.
Auftragsdokumente
- Portal — LOT-0001NON-RESTRICTED-DOCUMENT
- TED HTML — 538050-2026HTML
- TED PDF — 538050-2026PDF
- TED XML — 538050-2026XML
Dokumente kostenlos freischalten
Geben Sie Ihre E-Mail-Adresse ein. Auf Wunsch schicken wir Ihnen außerdem 3 ähnliche Ausschreibungen.