Röntgenphotoelektronenspektroskop (XPS) für Oberflächencharakterisierung
Beschaffung eines hochauflösenden XPS-Geräts zur Oberflächenanalyse, inklusive Installation und Schulung. Dies unterstützt spezifische wissenschaftliche Fragestellungen und die DLR-weite Forschung.
AUFTRAGGEBER
KLASSIFIZIERUNG
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Auftragsart
Lieferungen
Haupt-CPV
38433000, Spektrometer.
WEITERE DETAILS
Rechtsgrundlage
32014L0024
FRISTEN & ZEITRAUM
Angebotsfrist
29 Tage verbleibend(LOT-0001)
Veröffentlicht