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Röntgenphotoelektronenspektroskop (XPS) für Oberflächencharakterisierung

Beschaffung eines hochauflösenden XPS-Geräts zur Oberflächenanalyse, inklusive Installation und Schulung. Dies unterstützt spezifische wissenschaftliche Fragestellungen und die DLR-weite Forschung.

AUFTRAGGEBER

Name

Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. (DLR)

Stadt

Köln

Land

DE

Website

KLASSIFIZIERUNG

Verfahrensart

Offenes Verfahren

Auftragsart

Lieferungen

Haupt-CPV

38433000, Spektrometer.

WEITERE DETAILS

Rechtsgrundlage

32014L0024

FRISTEN & ZEITRAUM

Angebotsfrist

29 Tage verbleibend

(LOT-0001)

Veröffentlicht

AUFTRAGSDOKUMENTE

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