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ToF-SIMS System für Oberflächenanalytik
Beschaffung eines ToF-SIMS Systems zur hochauflösenden Oberflächencharakterisierung und 3D-Rekonstruktion für industrielle und universitäre Forschung.
AUFTRAGGEBER
Name
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbH
Stadt
Kaiserslautern
Land
DE
KLASSIFIZIERUNG
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Auftragsart
Lieferungen
Haupt-CPV
38433100, Massenspektrometer.
WEITERE DETAILS
Rechtsgrundlage
32014L0024
FRISTEN & ZEITRAUM
Angebotsfrist
30 Tage verbleibend(LOT-0001)
Veröffentlicht