Elektrochemisches Rasterkraftmikroskop

Bekanntmachung: Electrochemical atomic force microscopy device

Lieferung eines elektrochemischen Rasterkraftmikroskops: nicht-resonanter, sinusförmig-oszillierender Bildgebungsmodus (nroIM) mit reiner vertikaler z-Modulation des Cantilevers (Amplituden von 250 nm, Frequenzen von 125 Hz bis 2 kHz frei wählbar); Echtzeit-Bestimmung der maximalen Kontaktkraft (Force Setpoint) mit Minimum bis 10 pN; effektive Zeilenrate >= 2 Hz bei 512 Pixel/Zeile; geeignet für Cantilever mit Federkonstanten von 500 N/m; gleichzeitige Messung und Anzeige von Topographie, DMT-Modul, Adhäsion, Energiedissipation, Force Setpoint Error und Deformation; laterale Auflösung bis zu atomaren Defekten; kontinuierliche Anzeige der Spitzen-Proben-Kraftinteraktion; Betrieb mit Flüssigkeitszellen, Heizzellen, EC-Zellen ohne Funktionseinschränkung, automatische Eliminierung von Cantilever-Drift. Das System ist temperaturkontrolliert zur Minimierung thermischer Drift, mit Sensor in Scanner und Brücke sowie Rückkopplungsschleife für ähnliche Temperaturen; Heizmöglichkeit von Umgebungstemperatur bis 35 °C. Das Rasterkraftmikroskop (AFM) verfügt über ein geringes z-Rauschen (= 85 µm x 85 µm x 9,5 µm XYZ; einen großen Probenraum für die Integration schwerer (> 5 kg) zusätzlicher Komponenten; einen motorisierten 150 mm x 150 mm Probentisch; umfangreiche resonante, nicht-resonante und nicht-resonante oszillierende Bildgebungsmodi, einschließlich nroIM mit automatischer, kontinuierlicher, kontaktkraftabhängiger Optimierung der Bildverstärkung; erweiterte Scanparameter-Optimierungsalgorithmen zur kontinuierlichen Überwachung und automatischen Optimierung von Feedback-Loop-Parametern (Gains, Setpoint) für alle 3 Bildgebungsmodi (Kontakt, resonant und nicht-resonant oszillierend), basierend auf Trace-Retrace-Korrelationsscore; umfangreiche Piezo-Kraftmikroskopie (PFM) Bildgebungs- und Spektroskopiemodi (Volumenspektroskopie, hyperspektrale Mapping-Modi von PFM-Signalen, Frequenz-Sweep, Kontaktresonanzfrequenz und Eigenmode (Amplitude/Phase versus Spannung) gleichzeitig zu Topographie und mechanischen Eigenschaften, sogenannte dataCUBE-Modi); Torsionsresonanzmodus zur Erfassung dynamischer Reibungssignale und hochauflösender Abbildung von Moiré-Mustern gestapelter 2D-Materialien; nano-elektrische Bildgebung des Oberflächenpotenzials (KPFM) im nicht-resonanten, sinusförmig-oszillierenden Bildgebungsmodus. Probenhandhabung und Automatisierung umfassen einen zugänglichen Probenraum >= 150 mm x 150 mm x 18 mm XYZ, bis zu 45 mm Höhe; einen motorisierten (mindestens 150 mm x 150 mm) und programmierbaren Probentisch mit Vakuum-Probenhalterung; vertikale, softwaregesteuerte und automatisierte AFM-Spitzen-Engage-Funktionalität.

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