FIB-SEM System mit analytischen Techniken und Nanoindentation
Status
Aktiv
Angebotsfrist
34 Tage verbleibend
Auftraggeber
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Ort
Olomouc, Tschechien
Geschätzter Wert
31.452.000 CZK
Verfahren
Offenes Verfahren · Lieferungen
Kategorie
Rasterelektronenmikroskope.Ionenmikroskope.Spektrometer.
Veröffentlicht
Vergabenummer
ted-572059-2026
Quelle
Lieferung eines FIB-SEM Mikroskops (Rasterelektronenmikroskop mit Ionenstrahl) mit der Möglichkeit zur Abscheidung von mindestens drei Materialien (Platin, Kohlenstoff, Wolfram) und mit analytischen Techniken zur Materialanalyse: 4DSTEM, EBSD, EDS, Nanoindentation, TOF-SIMS.
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Auftragsdokumente
- Portal — LOT-0001NON-RESTRICTED-DOCUMENT
- TED HTML — 572059-2026HTML
- TED PDF — 572059-2026PDF
- TED XML — 572059-2026XML
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Weitere Details
EU-finanziert
Ja
KMU-geeignet
Ja
Elektronische Einreichung
Erforderlich
Rechtsgrundlage
32014L0024