Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops und analytischer Detektoren
Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops und analytischer Detektoren für das CEA LITEN. Obligatorische Optionen umfassen: Software zur automatischen Bildaufnahme, einen zweiten EDX-Detektor, Funktionen für Mosaike und Stitching im EDX-Software, ein Verzögerungssystem für die Probenbühne und einen Niederenergie-Rückstreuelektronendetektor. Fakultative Optionen sind: eine Garantieverlängerung um ein Jahr sowie Transportkosten inklusive Versicherung gemäß DAP CEA Grenoble (Incoterms ICC 2020).
AUFTRAGGEBER
Name
CEA Grenoble
Stadt
Grenoble
Land
FR
KLASSIFIZIERUNG
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Auftragsart
Lieferungen
Haupt-CPV
38436500, Mechanische Rührer
Weitere CPV
38511100, Rasterelektronenmikroskope.
WEITERE DETAILS
EU-finanziert
Ja
Elektronische Einreichung
Erforderlich
Rechtsgrundlage
32014L0024
FRISTEN & ZEITRAUM
Angebotsfrist
59 Tage verbleibend(LOT-0001)
Veröffentlicht