Aktivted-442951-2026
Optisches Inspektionssystem für Wafer in 100, 150 und 200mm
Beschaffung eines optischen Inspektionssystems für die Forschung und Entwicklung von CEA LETI, das Wafer in 100, 150 und 200mm Durchmesser mit hoher Empfindlichkeit inspizieren kann.
AUFTRAGGEBER
Name
CEA Grenoble
Stadt
Grenoble
Land
FR
KLASSIFIZIERUNG
Verfahrensart
neg-w-call
Auftragsart
Lieferungen
Haupt-CPV
31712100, Mikroelektronische Maschinen und Apparate.
WEITERE DETAILS
EU-finanziert
Ja
Elektronische Einreichung
Erforderlich
Rechtsgrundlage
32014L0024
FRISTEN & ZEITRAUM
Angebotsfrist
27 Tage verbleibend(LOT-0001)
Veröffentlicht