SOC-Testsystem für Fraunhofer EMFT
Lieferung eines Halbleiter-Testsystems (Mixed-Signal-Testsystem) für die Post-Silicon-Verifikation, Charakterisierung und den Funktionstest von integrierten Schaltungen und Chiplets am Fraunhofer EMFT: Das Testsystem muss Schnittstellen für den Anschluss an ein industrielles Wafer-Probing-System und ein industrielles Device-Handling-System bieten sowie Hard- und Software-kompatibel zu einem bestehenden Advantest V93000 Testsystem in der Fraunhofer-Gesellschaft sein.
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