Fraunhofer ENAS sucht hochauflösende TEM-Untersuchungen von Querschnitten an Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren zur Analyse von Grenzflächen.
Name
Fraunhofer ENAS
Stadt
Chemnitz
Land
DE
Verfahrensart
de-open
Rechtsgrundlage
32014L0024
Angebotsfrist
10 Tage verbleibend(LOT-0000)
Veröffentlicht
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