ToF-SIMS Analyseplattform für Oberflächencharakterisierung
Beschaffung einer hochmodernen ToF-SIMS Analyseplattform für detaillierte chemische Oberflächenanalysen, 2D-Imaging und 3D-Rekonstruktionen. Das System unterstützt vielfältige Forschungsfragen in Industrie und Wissenschaft.
AUFTRAGGEBER
Name
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbH
Stadt
Kaiserslautern
Land
DE
KLASSIFIZIERUNG
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Auftragsart
Lieferungen
Haupt-CPV
38433100, Massenspektrometer.
WEITERE DETAILS
EU-finanziert
Ja
KMU-geeignet
Nein
Elektronische Einreichung
Erforderlich
Rechtsgrundlage
32014L0024
FRISTEN & ZEITRAUM
Angebotsfrist
29 Tage verbleibend(LOT-0001)
Veröffentlicht