Aktivted-382478-2026
Wafer-fähiges PFIB-SEM System
Beschaffung eines hochmodernen Plasma Focused Ion Beam Scanning Elektronenmikroskop-Systems, das für Wafer-Anwendungen geeignet ist. Dieses System wird die Forschung und Entwicklung bei Imec EU Pilot line NV vorantreiben.
AUFTRAGGEBER
Name
Imec EU Pilot line NV
Stadt
Heverlee
Land
BE
KLASSIFIZIERUNG
Verfahrensart
neg-w-call
Auftragsart
Lieferungen
Haupt-CPV
38000000, Labor-, optische und Präzisionsgeräte (ohne Brillen)
WEITERE DETAILS
EU-finanziert
Ja
Elektronische Einreichung
Erforderlich
Rechtsgrundlage
32014L0024
FRISTEN & ZEITRAUM
Angebotsfrist
30 Tage verbleibend(LOT-0001)
Veröffentlicht