Aktivted-413311-2026
300 mm Semi-Automatisches HF-Probesystem für On-Wafer-Messungen bis 250 GHz
Beschaffung eines halbautomatischen 300-mm-HF-Probesystems mit kontrollierter Trockenatmosphäre für präzise On-Wafer-Messungen. Das System ermöglicht die Vermeidung von Kondensation und Eisbildung und unterstützt automatische Wafergrößenerkennung.
AUFTRAGGEBER
Name
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Stadt
Frankfurt (Oder)
Land
DE
KLASSIFIZIERUNG
Verfahrensart
Offenes Verfahren
Auftragsart
Lieferungen
Haupt-CPV
38341300, Geräte zum Messen elektrischer Größen
Weitere CPV
38540000, Maschinen und Apparate zum Prüfen und Messen
WEITERE DETAILS
EU-finanziert
Ja
KMU-geeignet
Ja
Elektronische Einreichung
Erforderlich
Rechtsgrundlage
32014L0024
FRISTEN & ZEITRAUM
Angebotsfrist
28 Tage verbleibend(LOT-0001)
Veröffentlicht