Aktivted-435079-2026
FIB-SEM Dualbeam System für Halbleiteranalyse
Beschaffung eines hochauflösenden FIB-SEM Dualbeam Systems für Strukturierung und Analyse von Halbleitern, LNOI und Polymeren. Das System ermöglicht automatisierte Routinen und ist für die Halbleitertechnik konzipiert.
AUFTRAGGEBER
Name
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Stadt
München
Land
DE
KLASSIFIZIERUNG
Verfahrensart
neg-w-call
Auftragsart
Lieferungen
Haupt-CPV
42900000, Verschiedene allgemeine und spezielle Maschinen.
Weitere CPV
38512100, Ionenmikroskope.
WEITERE DETAILS
EU-finanziert
Ja
KMU-geeignet
Ja
Elektronische Einreichung
allowed
Rechtsgrundlage
32014L0024
FRISTEN & ZEITRAUM
Angebotsfrist
28 Tage verbleibend(LOT-0000)
Veröffentlicht