FIB-SEM Dualbeam System für Halbleiteranalyse
Status
Abgelaufen
Angebotsfrist
Keine Frist angegeben
Auftraggeber
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B1227 weitere offene Ausschreibungen ansehen
Ort
München, Deutschland
Verfahren
Verhandlungsverfahren mit Teilnahmewettbewerb · Lieferungen
Kategorie
Verschiedene allgemeine und spezielle Maschinen.Ionenmikroskope.
Veröffentlicht
Vergabenummer
ted-435079-2026
Quelle
Beschaffung eines hochauflösenden FIB-SEM Dualbeam Systems für Strukturierung und Analyse von Halbleitern, LNOI und Polymeren. Das System ermöglicht automatisierte Routinen und ist für die Halbleitertechnik konzipiert.
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Auftragsdokumente
- Portal — LOT-0000NON-RESTRICTED-DOCUMENT
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Weitere Details
EU-finanziert
Ja
KMU-geeignet
Ja
Elektronische Einreichung
Zulässig
Rechtsgrundlage
32014L0024