Optisches Messgerät für 100/150/200mm Wafer für CEA LETI
Beschaffung eines optischen Inspektionssystems für Wafer von 100-200mm zur Forschung und Entwicklung. Das System ersetzt alte Geräte und qualifiziert Prozesse in Reinräumen.
AUFTRAGGEBER
Name
CEA/GRENOBLE
Stadt
Grenoble
Land
FR
KLASSIFIZIERUNG
Verfahrensart
neg-w-call
Auftragsart
Lieferungen
Haupt-CPV
31700000, Elektronische, elektromechanische und elektrotechnische Ausrüstung.
Weitere CPV
31712100, Mikroelektronische Maschinen und Apparate.
WEITERE DETAILS
EU-finanziert
Ja
Elektronische Einreichung
Erforderlich
Rechtsgrundlage
32014L0024
FRISTEN & ZEITRAUM
Angebotsfrist
37 Tage verbleibend(LOT-0001)
Veröffentlicht