Aktivhilma-EF-47417
Ultraschall-Dickenmessgerät für Schichtdickenmessung
Wir suchen ein vollautomatisches Messsystem für die Schichtdickenmessung mittels ultraschallbasierter Verfahren. Dieses System dient der Materialcharakterisierung in Halbleiterprozessen.
AUFTRAGGEBER
Name
TEKNOLOGIAN TUTKIMUSKESKUS VTT OY
Land
FI
KLASSIFIZIERUNG
Verfahrensart
neg-wo-call
Auftragsart
Lieferungen
Haupt-CPV
38300000 – Messinstrumente.
WEITERE DETAILS
Elektronische Einreichung
Erforderlich
Rechtsgrundlage
32014L0024
FRISTEN & ZEITRAUM
Angebotsfrist
167 Tage verbleibend(LOT-0000)
Veröffentlicht